LS 13 320 XR, con la sua tecnologia PIDS avanzata e l’intervallo di misurazione esteso offre un’analisi con risoluzione più elevata e risultati più accurati e riproducibili. È possibile misurare una gamma più ampia di particelle e rilevare differenze più piccole nei campioni in modo più rapido e affidabile. Il nuovo software con un’interfaccia intuitiva ti fornisce i dati bisogno con pochi clic.

Descrizione

• Campo di misura esteso: da 10 nm – 3.500 μm
• Misurazioni ad alta risoluzione fino a 3.500 μm
• Automodalità avanzata
• Software ottimizzato e intuitivo