Test ATE funzionali / In circuit
Test funzionali ed in circuit
Una gamma completa di sistemi per il test Automatico Funzionale, InCircuit , Boundary Scan-JTAG, Open Short, Circuiti Stampati. Sistemi cerca guasti, riproduzione di schemi elettrici (Reverse Engineering), Short locator, Le soluzioni Qmax rispondono alle necessità attuali di mercato in termini di prestazioni, basso costo di mantenimento e ricupero immediato dell’investimento. Una sola piattaforma hardware ed un software potente e facile rendono unici i sistemi Qmax. I sistemi Qmax accettano file di test provenienti da ATE GenRad, Teradyne, Agilent, Factron, ed altri